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上海倍藍光電科技有限公司

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當前位置:上海倍藍光電科技有限公司>>光測試系統(tǒng)>> ILLUMIA PRO 2LED光學(xué)熱學(xué)和電學(xué)性能分析系統(tǒng)

LED光學(xué)熱學(xué)和電學(xué)性能分析系統(tǒng)

參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號:ILLUMIA PRO 2

品       牌:

廠商性質(zhì):生產(chǎn)商

所  在  地:上海市

更新時間:2025-03-09 17:16:17瀏覽次數(shù):1041次

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產(chǎn)地 國產(chǎn) 加工定制
LED光學(xué)熱學(xué)和電學(xué)性能分析系統(tǒng)以盡可能減少與定向光源和發(fā)散光源相關(guān)的空間分布敏感性并易于使用為設(shè)計原則,滿足行業(yè)的測量標準。

LED制造商、集成商以及用戶非常關(guān)注LED的光學(xué)、熱學(xué)和電學(xué)特性,因為結(jié)溫的變化將影響LED的顏色、光通量、壽命、發(fā)光效率及線性特征。

Illumia Pro 2針對產(chǎn)品加設(shè)了溫控盤,方便用戶對LED、LED模塊及陣列的電特性、光學(xué)和熱學(xué)特性準確測量。

Illumia®Pro 光測量系統(tǒng)以盡可能減少與定向光源和發(fā)散光源相關(guān)的空間分布敏感性并易于使用為設(shè)計原則,滿足行業(yè)的測量標準。

所有的系統(tǒng)都由Labsphere經(jīng)驗豐富的實驗室校準團隊在特定應(yīng)用程序下進行校正,測量結(jié)果可溯源xxxNIST(美國國家標準局)。

Spectraflect®涂料是Labsphere*的高漫反射率涂料, 可以覆蓋較寬的波長范圍。這種材料無毒,朗伯特性好,易于噴涂在任何基板上。Spectraflect®涂料采用硫酸鋇及專有配方配置而成,采用這種涂料制成的表面具有近乎xxx的漫反射特性。

Spectraflect®涂料不透明,在400-1100nm波長范圍內(nèi)反射率可高達98%,溫度接近100℃時熱穩(wěn)定性好。

Spectraflect®在紫外-可見-近紅外光譜區(qū)內(nèi)通常被用作反射涂料,且在300-2400nm的波長范圍內(nèi)xxx為有效,涂料在波長達到185nm時開始出現(xiàn)粘合劑吸收峰。

illumia®Pro光測量系統(tǒng)客戶定制化程度高,SMS-500高速光譜儀及多種可互換的光測量附件。光譜結(jié)果毫秒內(nèi)便可獲得,并且符合測量標準。


 

LED光學(xué)熱學(xué)和電學(xué)性能分析系統(tǒng)測量參數(shù): 
? 總光譜通量、光通量、輻射通量、色坐標、光輻射功率、顏色、光效
? 色溫和顯色指數(shù)、峰值波長、主波長 
? 電流、電壓、流明功效、其他測量
? 載體溫度與電學(xué)及光學(xué)參數(shù)關(guān)系


應(yīng)用:
? 單顆及封裝LED
? LED模組,陣列及小型光源
? 顯示屏背光模塊
? 熒光燈、節(jié)能燈、路燈等大尺寸光

LED光學(xué)熱學(xué)和電學(xué)性能分析系統(tǒng)特點:

  • 寬動態(tài)范圍允許單個積分球測量不同亮度等級
  • NIST溯源標準,可自校準
  • 光譜測量結(jié)果可在毫秒內(nèi)獲得
  • 積分球內(nèi)表面使用Spectraflect®涂料,漫反射率高
  • 符合國家測量標準

illumia®Pro的溫控單元 (TEC 制冷)

特點:

  • 完整的熱學(xué)、光學(xué)、電學(xué)分析
  • 自動數(shù)據(jù)采集和分析
  • 熱電溫度控制及監(jiān)控
  • 測量光學(xué)特性與溫度及工作電流的函數(shù)關(guān)系
  • 可選擇多種尺寸的積分球(直徑0.5米,1米,1.65米及2米)
  • 滿足IESNA LM-79和LM-80標準可實現(xiàn)周圍環(huán)境溫度控制

SMS-500是高靈敏度的CCD陣列光譜儀,具有低噪音、光譜范圍廣的特點。illumia®Pro熱測量系統(tǒng)配套的光譜儀能避免與基于過濾器的光度計相關(guān)的固有光測誤差。即便針對一些窄帶光源應(yīng)用,如LED、熒光燈和放電燈,也能獲得精確的測量數(shù)據(jù)。
Labsphere的SMS-500 CCD陣列光譜儀是一種多通道的實時光譜數(shù)據(jù)分析儀,可以快速獲得待測設(shè)備的輻照度、光度及色度等參數(shù),快速測量有助于提高產(chǎn)品開發(fā)速度、縮短產(chǎn)品上市時間、降低產(chǎn)品開發(fā)成本。

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